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聚焦瑞凱，傳遞環(huán)境檢測(cè)行業(yè)新動(dòng)態(tài)
瑞凱持續(xù)加強(qiáng)可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)，助推電池業(yè)務(wù)發(fā)展
17 2021-04

瑞凱持續(xù)加強(qiáng)可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)，助推電池業(yè)務(wù)發(fā)展

電池測(cè)試應(yīng)用于多種工業(yè)領(lǐng)域，這些領(lǐng)域包括汽車、計(jì)算機(jī)、通訊、國(guó)防、和新能源市場(chǎng)，廣泛的應(yīng)用需要更加可靠的質(zhì)量保證和使用安全性。作為多年深耕鋰電領(lǐng)域、提供鋰電池環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備的生產(chǎn)企業(yè)，瑞凱儀器也迎來了新一輪發(fā)展高潮，防爆型高低溫測(cè)試心技術(shù)，持續(xù)加強(qiáng)可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的開發(fā)與拓展，為鋰電池安全保駕…
高溫對(duì)電源適配器安全性能的影響

試驗(yàn)案例：高溫對(duì)電源適配器安全性能的影響

通過試驗(yàn)可驗(yàn)證較高的環(huán)境溫度會(huì)增加設(shè)備的發(fā)熱程度。選擇在發(fā)熱上具有一定代表性的試驗(yàn)樣品，使其處于滿負(fù)載的條件下，或處于在…
集成電路芯片高低溫測(cè)試的應(yīng)用

集成電路芯片高低溫測(cè)試的應(yīng)用

通過實(shí)際應(yīng)用發(fā)現(xiàn)，必須注意以下一些具體的環(huán)節(jié)，如測(cè)試板的隔離、防潮，被測(cè)器件的靜電保護(hù)，被測(cè)器件芯片溫度的確定等問題、才…
LED燈溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試方法

LED燈溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試方法

溫度循環(huán)試驗(yàn)應(yīng)按照GB/T2423.22-2012的試驗(yàn)Nb:“規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定進(jìn)行。試驗(yàn)應(yīng)在滿足GB…
半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件。在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件綜合、電…
IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析

IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析

該產(chǎn)品的高溫失效問題，與COB各材料都有著密切的關(guān)系:PCB、IC、邦定線、黑膠。但主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下…
高低溫試驗(yàn)箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

高低溫試驗(yàn)箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

本文設(shè)計(jì)的高低溫試驗(yàn)箱箱體的內(nèi)部工作環(huán)境為非真空狀態(tài)，工作溫度范圍廣，內(nèi)部空間尺寸跨度較大，對(duì)內(nèi)框架的設(shè)計(jì)提出了挑戰(zhàn)。如…

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