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電子產品老化溫度及時間確認

作者： 網絡 編輯： 瑞凱儀器 來源： gyzdryn.cn 發(fā)布日期： 2021.05.11
    所謂老化試驗是在不破壞產品失效的基礎上施加合理的環(huán)境應力和電應力，將其內部的潛在缺陷加速變成故障，盡快達到浴盆曲線中期失效。通常都以溫度作為應力而常見，公式參見下面。
    SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t] 
    式中，SS——篩選強度(篩選出的缺陷品數的平均值/總的潛在缺陷品) 
    R——高溫與室溫（一般取25℃）的差值
    t——恒定高溫持續(xù)時間（h）
    e= 2.718282

    篩選強度與溫度、時間對應表：

電子產品老化溫度及時間確認

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