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電子元器件密封穩(wěn)態(tài)濕熱試驗標準

作者: salmon范 編輯: 瑞凱儀器 來源: gyzdryn.cn 發(fā)布日期: 2019.08.26
    一、工作原理

    本試驗主要考核器件密封性能,器件在高溫高濕情況下,封裝結(jié)構的材料缺陷處部分潮氣和雜質(zhì)會侵入,從而影響器件的電性和結(jié)構性能。

電子元器件密封穩(wěn)態(tài)濕熱試驗標準

    二、主要用途:
    采用加速方式來檢驗器件耐溫耐濕的能力,此方法與器件實際工作環(huán)境比較相近。
    三、試驗儀器
     RK-TH-225L恒溫恒濕試驗箱
    圖示儀,綜測儀
    四、試驗規(guī)定
    4.1要嚴格按照試驗儀器“技術說明書”操作順序操作。
    4.2常規(guī)產(chǎn)品規(guī)定每季度做一次周期試驗,試驗條件及判據(jù)采用或等效采用產(chǎn)品標準;新產(chǎn)品、新工藝、用戶特殊要求產(chǎn)品等按計劃進行。
    4.3采用LTPD的抽樣方法,在次試驗不合格時,可采用追加樣品抽樣方法或采用篩選方法重新抽樣,但無論何種方法只能重新抽樣或追加一次。
    4.4若LTPD=10%,則抽22只,0收1退,追加抽樣為38只,1收2退。抽樣必須在0QC檢驗合格成品中抽取。
    五、操作規(guī)范
    1)打開恒溫恒濕試驗箱電源開關;
    2)根據(jù)試驗要求設定程序運行的狀態(tài):
    MODEL1: STEP1: 溫度設定值濕度設定值1 000h
    3)啟動狀態(tài);
    4) 1000h 后關閉恒溫恒濕試驗箱,取出材料;
    5)常溫下放置12h后,48h之內(nèi)測試。
    六、試驗條件及判據(jù):
    環(huán)境條件
    (1)標準狀態(tài)
    準狀態(tài)是指預處理,后續(xù)處理及試驗中的環(huán)境條件。論述如下:
    環(huán)境溫度:  15~35℃
    相對濕度:  45~75%RH
    (2)判定狀態(tài)
    判定狀態(tài)是指初測及終測時的環(huán)境條件。論述如下:
    環(huán)境溫度:  25±3℃
    相對濕度:  45~75%RH
    (3)試驗條件
    TA=65±3℃;RH=95±3%或TA=85±3℃;RH=55±3%
    試驗時間168h,1000h
    (4)判斷依據(jù)
    ACC-0、REJ-1
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